雷尼紹探頭A-1207-0001（CMM）

TP200 / TP200B測頭本體

TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。

特性與優(yōu)點

• 應(yīng)變片技術(shù)具有良好的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量
• 零復(fù)位誤差
• 無各向同性影響
• 六向測量能力(±X, ±Y, ±Z)
• 測針測量距離達(dá)100 mm（GF測針）
• 快速測頭模塊交換，無需重新標(biāo)定測尖
• 壽命 >1000萬次觸發(fā)
• 與各種Renishaw探頭和附件兼容

TP200觸針模塊：

通過高度可重復(fù)的運(yùn)動關(guān)節(jié)安裝觸針模塊，提供快速更換觸針的能力和探針超程保護(hù)。
支架力模塊（包括）適用于大多數(shù)應(yīng)用